行业资讯-深圳辰希半导体

AEC-Q101是由汽车电子委员会制定的车规级分立半导体器件可靠性验证标准，涵盖二极管、晶体管、MOSFET、IGBT等关键元器件认证。作为国内少数具备CNAS全项检测资质与CNCA发证能力的第三方AEC-Q101认证检测实验室，我们构建了符合ISO/IEC 17025体系的车规级检测平台，可提供从测试方案设计到认证报告交付的一站式服务。认证...

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汽车电子可靠性测试认证规范AEC-Q100全面解析

AEC是谁？ Automotive Electronics Council(AEC)中文名称为汽车电子协会，缩写为AEC，最初是由美国三大汽车制造商(克莱斯勒，福特和通用汽车)在1994年共同创立的非营利组织，创立的目的是建立通用的汽车零件认证和质量体系标准，以确保汽车零部件能够在汽车的各种复杂环境下稳定工作。自成立以来，AEC由两个委员会组成：...

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芯片技术干货｜一文读懂HTOL集成电路老化测试

HTOL(High Temperature Operating Life)测试是评估集成电路（芯片）可靠性的一项关键性测试，主要通过高温激活失效机制来评估芯片寿命和长期通电运行的可靠性、稳定性。主要的测试方法有JESD22-A108、MIL-STD-883方法1005.8、EIAJ-ED4701/100-101等标准。 HTOL测试的主要试验参数是温度、电压和时间。试验温度是根据芯片的...

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可靠性测试解析：HTOL、LTOL与Burn-In

以下是半导体可靠性测试中HTOL、LTOL与Burn-In技术的综合解析，基于最新行业标准及应用实践整理：一、 HTOL（高温工作寿命测试）定义与目的通过高温（125°C~150°C）与最大工作电压的叠加应力，加速芯片在长期运行中的失效机制，评估其高温环境下的使用寿命。核心参数温度范围：车规级Grade 0为150°C，...

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成功设计LED驱动电源的五个关键点

一、LED电流大小 LED电流的大小直接影响着使用寿命，建议降额使用，因此尽量控制小点，特别是LED散热效果不好的话，LED一定要留足余量。二、芯片发热这主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动...

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知识分享：教您一招如何辨别翻新芯片

芯片为何一定要翻新才能使用，难道不能直接从原有的产品上拆下来直接使用吗？这是由于直接拆下来通常针脚不正，不干净，贴片机也贴不上。需要将焊锡去掉，清洗，重新打上logo进行通电测试，才能保证芯片能够正常使用。尽管有商家会明确对客户表示，自己的产品是翻新芯片，但万一遇到没有告知的情况下，又将如何辨...

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