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AEC-Q101可靠性测试难点解析

信息发布:深圳辰希半导体有限公司
发布时间:2025-08-17
AEC-Q101是由汽车电子委员会制定的车规级分立半导体器件可靠性验证标准,涵盖二极管、晶体管、MOSFET、IGBT等关键元器件认证。作为国内少数具备CNAS全项检测资质与CNCA发证能力的第三方AEC-Q101认证检测实验室,我们构建了符合ISO/IEC 17025体系的车规级检测平台,可提供从测试方案设计到认证报告交付的一站式服务。

认证体系包含7大类32项严苛测试:

1. 环境可靠性试验:温度循环(-55℃~150℃)、高压蒸煮(121℃/100%RH)
2. 寿命加速试验:高温反向偏置(HTRB)、高温栅极偏置(HTGB)
3. 机械应力测试:振动(20~2000Hz)、机械冲击(1500g)
4. 电气特性验证:雪崩能量测试、热阻测量(RθJA)
5. 失效模式分析:开封检查、扫描电镜(SEM)分析

AEC-Q101可靠性测试五大技术难点

难点1:极端条件模拟

- 温度冲击测试要求温变速率>40℃/min,需定制液氮快速温变箱
- 功率循环测试需精确控制△Tj=100K的结温波动

难点2:数据采集复杂性

- MOSFET的RDS(on)参数测量需在脉冲宽度<300μs条件下完成
- IGBT模块测试需同步采集VCE(sat)、Eoff等动态参数

难点3:失效机理判定

- 静电损伤(ESD)与闩锁效应(Latch-up)需通过EBIC检测定位失效点
- 金属迁移失效需结合FIB切片与EDS元素分析

难点4:测试周期控制

- HTOL寿命试验持续1000小时以上
- 温湿度组合测试需进行1000次循环

难点5:标准动态更新

- 2023版新增SiC器件双脉冲测试要求
- TVS管新增UIS(非钳位电感开关)测试项

AEC-Q101认证适用产品范围

AEC-Q101认证适用于汽车电子系统关键器件:
- 功率器件:SiC MOSFET、IGBT模块
- 保护器件:TVS二极管、稳压管
- 驱动器件:达林顿晶体管、光耦
- 传感器件:霍尔元件、温度传感器

AEC-Q101认证测试流程

1. 确定温度等级:根据器件的应用环境选择合适的温度等级。
2. 选择测试项目:根据器件类型和封装形式,选择需要进行的环境应力实验和性能测试项目。
3. 进行测试:完成选定的测试项目,记录测试结果。
4. 数据分析:对测试数据进行分析和处理,确保所有测试结果符合AEC-Q101标准的要求。
5. 认证报告:通过测试后,实验室出具AEC-Q101认证CNAS测试报告,证明器件符合标准。
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