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IOL 老化板
信息发布：深圳辰希半导体有限公司
发布时间：2025-08-25
间歇工作寿命测试是一种功率循环测试，将被测对象置于常温环境
Ta=25
℃，通入电流使其自身发热结温上升，且使
T
j
≧
100
℃，等其自然冷却至环境温度，再通入电流使其结温上升，不断循环反复。
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