首页
关于辰希
关于我们
核心竞争力
产品中心
韩国DI Burn-in老化板
集成电路老化测试系统
功率器件老化板
摄像头模组老化测试系统
应用领域
二极管
三极管
MOS管
IGBT管
MCU
SOC
新闻中心
公司新闻
行业资讯
产品动态
联系我们
新闻中心
值得您信赖的电子元器件、集成电路可靠性测试设备解决方案和技术供应商
公司新闻
行业资讯
产品动态
HTGB 老化板
信息发布：深圳辰希半导体有限公司
发布时间：2025-08-25
HTGB老化板专为
半导体器件高温加速寿命测试
设计，支持氮气/空气环境控制，最高工作温度
200°C
，适用于IC、功率器件及传感器的可靠性验证。
上一篇:
汽车电子可靠性测试认证规范AEC-Q100全面解析
下一篇:
No info
关于辰希
关于我们
核心竞争力
产品中心
韩国DI Burn-in老化板
集成电路老化测试系统
功率器件老化板
摄像头模组老化测试系统
应用领域
二极管
三极管
MOS管
IGBT管
MCU
SOC
新闻中心
公司新闻
行业资讯
产品动态
联系我们
电话：13662639793
邮箱：frank_liu@galaxyhope.com.cn
联系人：刘经理
地址：深圳市宝安区新安街道布心社区大井山宝石路蓝坤集团B栋B601
深圳辰希半导体有限公司版权所有
Sitemap
粤ICP备2025390702号-1
