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韩国DI老化测试板
韩国DI老化测试板
适用: DL600 Series、DL601 Series、DL602 Series、DL612 Series 技术指标 ...
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集成电路动态老化筛选系统
集成电路动态老化筛选系统
系统概述 适用于模拟、数字及数模混合集成电路,执行高温动态老炼筛选与寿命测试。 遵循GJB、MIL、AE...
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HTRB 老化板
HTRB 老化板
HTRB(高温反偏)老化板是用于半导体器件高温反偏测试的专用设备,主要应用于二极管、三极管、MO...
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HTGB 老化板
HTGB 老化板
HTGB老化板专为 半导体器件高温加速寿命测试设计,支持氮气/空气环境控制,最高工作温度 20...
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HAST 老化板
HAST 老化板
HAST老化板是用于 高度加速应力测试的专用测试载具,通过模拟高温、高湿、高压环境,在短...
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H3TRB 老化板
H3TRB 老化板
H3TRB老化板是一种专门用于电子元器件可靠性测试的设备配件,主要用于高温高湿偏压测试(High Temperature ...
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IOL 老化板
IOL 老化板
间歇工作寿命测试是一种功率循环测试,将被测对象置于常温环境Ta=25℃,通入电流使其自身发热结温上升,且...
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半导体设备&耗材
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