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韩国DI Burn-in老化板集成电路老化测试系统功率器件老化板摄像头模组老化测试系统

集成电路动态老化筛选系统

系统概述

◉ 适用于模拟、数字及数模混合集成电路,执行高温动态老炼筛选与寿命测试。

◉ 遵循GJB、MIL、AEC-Q等标准,确保测试合规。

◉ 实现全批次、全功能动态早期老化筛选,满足主机厂严苛可靠性标准。

◉ 自研全栈开发方案,成本效益显著。

◉ 上位机全自动化控制,提升效率。

◉ 老化板设计实现FT测试全面覆盖。

◉ 高效定制化开发流程,灵活应对需求。

◉ 产能、温控、自动化模块灵活配置,满足老化线搭建需求。

◉ 配备完善软硬件团队,提供无忧售后服务。

◉ 座舱模组类产品已成功实施交付高通8295平台,MTK8676平台等全套解决方案

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